首页> 外国专利> Method and arrangement for the measurement of the real part and of the blind part of an impedance in the case of high frequency

Method and arrangement for the measurement of the real part and of the blind part of an impedance in the case of high frequency

机译:在高频情况下测量阻抗的实部和盲部的方法和装置

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号DE964528C

    专利类型

  • 公开/公告日1957-05-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TELEFUNKEN G.M.B.H.;

    申请/专利号DE1955T010957

  • 发明设计人 BORCHERT DIPL.-ING. MAX;

    申请日1955-05-27

  • 分类号G01R27/02;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-23 22:17:14

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号