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turning and schwenkkamera for feinstrukturuntersuchungen by example: x-rays roentgenstrahlen uf roentgen rays in single crystals

机译:举例来说,车削和schwenkkamera用于feinstrukturuntersuchungen:单晶X射线伦琴斯特拉伦uf伦琴射线

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号DE000001054250A

    专利类型

  • 公开/公告日1959-04-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HEINZ JAGODZINSKI DR;

    申请/专利号DEJ0012868A

  • 发明设计人 JAGODZINSKI DR HEINZ;

    申请日1957-02-22

  • 分类号

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-23 20:00:58

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