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机译:天平,特别是实验室天平或分析天平
公开/公告号DE1132740B
专利类型
公开/公告日1962-07-05
原文格式PDF
申请/专利权人 METTLER FABRIK FUER ANALYSENWA;
申请/专利号DE1957M034358
发明设计人 MEIER JOHANN;
申请日1957-06-01
分类号G01G1/26;G01G1/34;
国家 DE
入库时间 2022-08-23 17:51:30
机译: 天平,特别是实验室天平或分析天平
机译: 秤,特别是实验室天平或分析天平