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机译:利用微波的厚度测定方法及装置
公开/公告号US3117276A
专利类型
公开/公告日1964-01-07
原文格式PDF
申请/专利权人 WISCONSIN ALUMNI RESEARCH FOUNDATION;
申请/专利号US19600039303
发明设计人 BEYER JAMES B.;PETERSON HAROLD A.;BLADEL JEAN G. VAN;
申请日1960-06-28
分类号B21B38/04;G01B15/02;
国家 US
入库时间 2022-08-23 16:13:59
机译: 辊位移测量方法,采用相同方法的设备的辊位移测量方法,膜厚度测量方法以及采用相同方法的膜厚度测量方法
机译: 使用微波的厚度测量方法和测量微波传感器的厚度
机译: 支架的测量,层厚测量装置,层厚测量方法和程序,层厚测量系统的层厚测量方法