method and arrangement for automatic photoelectric schichtdickenmessung in the manufacture duenner layers on transparent materials nanoseconds in vacuum

机译： 于真空中​​以纳秒为单位制造光学schichtdickenmessung二合体层的方法和装置

机译： 通过真空气相沉积在透明基板上制造较薄层时自动测量光电层厚度的方法和装置

机译： 用于处理材料和/或在超高真空中研究伏尔加根的腔室，特别是在traegermaterial上的纳秒二烯层