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机译:化学计量比的cdse薄层的获得方法
公开/公告号FR1435783A
专利类型
公开/公告日1966-04-22
原文格式PDF
申请/专利权人 SIEMENS AG;SIEMENS-SCHUCKERTWERKE AKTIENGESELLSCHAFT;
申请/专利号FR19640980215
发明设计人
申请日1964-06-30
分类号H01L21/108;H01L21/363;
国家 FR
入库时间 2022-08-23 14:52:35
机译: cdse化学计量燃烧薄层的制造方法,无需过量空气。
机译: 用化学计量的氮化硅薄层覆盖的,特别是碳化硅的衬底,用于制造生产部件,以及获得这种层的方法
机译: 用化学计量比的氮化硅薄层覆盖的,特别是碳化硅的基质,用于制造电子成分,以及获得该层的方法