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Device for measuring locally dependent differences between the magnetic field gradient at different points of a magnetic field

机译：用于测量磁场的不同点处的磁场梯度之间的局部相关差异的设备

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机译：

著录项

  • 公开/公告号US3341772A

    专利类型

  • 公开/公告日1967-09-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SIEMENS-SCHUCKERTWERKE AKTIENGESELLSCHAFT;

    申请/专利号US19640405486

  • 发明设计人 WEISS HERBERT;

    申请日1964-10-21

  • 分类号G01R33/022;G01R33/07;G01R33/09;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-23 13:42:19

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