首页> 外国专利> PHOTOELECTRIC DEFECT DETECTOR RESPONDING TO INEQUALITY OF RESIDUAL CHARGES ON PAIRS OF CAPACITORS CONNECTED TO PAIRS OF PHOTOCELLS

PHOTOELECTRIC DEFECT DETECTOR RESPONDING TO INEQUALITY OF RESIDUAL CHARGES ON PAIRS OF CAPACITORS CONNECTED TO PAIRS OF PHOTOCELLS

机译:对与光电池对连接的电容器对上剩余电荷不等性的光电缺陷检测器

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号FR2001175A1

    专利类型

  • 公开/公告日1969-09-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 CUTLER HAMMER INC;

    申请/专利号FR19690001189

  • 发明设计人

    申请日1969-01-23

  • 分类号G01N21/00;

  • 国家 FR

  • 入库时间 2022-08-23 11:55:47

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号