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ELECTRON PROBE MICROANALYZER FOR MEASURING THE DIFFERENTIAL ENERGY RESPONSE OF AUGER ELECTRONS

机译:电子探针微分析仪,用于测量俄歇电子的微分能量响应

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号US3461306A

    专利类型

  • 公开/公告日1969-08-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 GENERAL ELECTRIC CO.;

    申请/专利号USD3461306

  • 发明设计人 NATHAN REY WHETTEN;VIRGIL L. STOUT;

    申请日1967-04-27

  • 分类号H01J37/26;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-23 11:39:54

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