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机译:降低双频材料性能测量系统输出信号中过程噪声影响的方法和装置
公开/公告号US3496460A
专利类型
公开/公告日1970-02-17
原文格式PDF
申请/专利权人 IND. NUCLEONICS CORP.;
申请/专利号USD3496460
发明设计人 ROBERT W. MARTIN;
申请日1968-04-22
分类号G01R27/26;H04B1/10;
国家 US
入库时间 2022-08-23 10:25:51
机译: 通过周期性地和交替地将不同频率的信号施加到电容探针并测量输出信号中的差异,同时保持输出信号的平均幅度恒定来测量介电材料特性的系统和方法
机译: 通过将两个不同频率的信号施加到电容探针并测量输出信号的差,同时保持一个输出信号恒定的方法来测量介电材料的特性的系统和方法
机译: 用于通过将两个不同频率的输入信号施加到电容探针并改变一个输入信号的频率以保持两个频率的输出信号的恒定比率来定量测量介电材料特性的系统