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METHOD OF MEASURING THE VOLUME RESISTIVITY OF THIN,SOLID DIELECTRIC MATERIAL UTILIZING THE DECAY RATES OF A NUMBER OF MEASURED DECAY INTERVALS

机译:利用多个测得的衰减间隔的衰减率来测量薄的固体电介质体积电阻率的方法

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号US3496461A

    专利类型

  • 公开/公告日1970-02-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 BELL TELEPHONE LAB. INC.;

    申请/专利号USD3496461

  • 发明设计人 JAMES E. WEST;GERHARD M. SESSLER;

    申请日1967-05-25

  • 分类号G01R27/02;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-23 10:25:51

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