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机译:受热波动影响时保持标本位置的电子显微镜标本阶段
公开/公告号US3612863A
专利类型
公开/公告日1971-10-12
原文格式PDF
申请/专利权人 NIHON DENSHI KK.;
申请/专利号USD3612863
发明设计人 SHIGERU SUZUKI;
申请日1969-11-25
分类号H01J37/20;
国家 US
入库时间 2022-08-23 09:00:18
机译: 样品架尖端部分,具有所述样品架尖端部分的样品架,测电台和具有所述测电台的电子显微镜
机译: 标本持有人提示部分,标本持有人的标本标本持有人提示部分,标明台和具有标明阶段的电子显微镜