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机译:用于确定样品的红外辐射的漫反射和光谱反射的设备,以对该样品进行分类
公开/公告号US3747755A
专利类型
公开/公告日1973-07-24
原文格式PDF
申请/专利权人 MASSACHUSETTS INST OF TECHNOLOGYUS;
申请/专利号USD3747755
发明设计人 SENTURIA SUS;WILSON DUS;WINDKLER PUS;
申请日1971-12-27
分类号B07C5/34;
国家 US
入库时间 2022-08-23 06:26:25
机译: 通过几何学消除产生干扰的特定反射的辐射分量来消除漫反射表面上的双光束红外反射测量中的干扰误差的装置和方法