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机译:集成半导体-在许多情况下符合几何形状的光电探测器-光谱照片
公开/公告号DE2315054A1
专利类型
公开/公告日1974-10-03
原文格式PDF
申请/专利权人 BLEICHER MAXIMILIAN DR.-ING. 8000 MUENCHEN;
申请/专利号DE19732315054
发明设计人 BLEICHER MAXIMILIAN DR.-ING. 8000 MUENCHEN;
申请日1973-03-26
分类号H01L15/00;
国家 DE
入库时间 2022-08-23 05:23:09
机译: 半导体光电检测器,使用这种光电检测器的电磁辐射多光谱检测装置以及实现这种装置的方法
机译: 用于光盘驱动器的光电探测器IC-使用集成半导体提供光电探测器,转换器,跟踪和聚焦计算器以及开关测试设备
机译: 圆形电极几何金属-半导体-金属光电探测器