首页> 外国专利> Korpuskular beam microscope, in particular an electron microscope, with adjusting devices for the change in the position of the image that is an object or of the object image

Korpuskular beam microscope, in particular an electron microscope, with adjusting devices for the change in the position of the image that is an object or of the object image

机译：柯波克射线显微镜，特别是电子显微镜，具有用于改变作为物体或物体图像的图像的位置的调节装置

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公开/公告号DE2441288C2

专利类型
公开/公告日1976-10-28

原文格式PDF
申请/专利权人 MAX PLANCK GESELLSCHAFT;
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申请/专利号DE19742441288
发明设计人 HOPPE WALTER;
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申请日1974-08-27
分类号H01J37/26;H01J37/22;
国家 DE
入库时间 2022-08-23 02:04:58

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