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机译:用于测量非磁性导电背衬上电介质涂层厚度的涡流测量仪
公开/公告号SU567086A1
专利类型
公开/公告日1977-07-30
原文格式PDF
申请/专利权人 BUDKIN VYACHESLAV KSU;
申请/专利号SU19731919850
发明设计人 FOMENKO VLADIMIR VSU;BUDKIN VYACHESLAV KSU;VYAKHOREV VIKTOR GSU;TRAKHTENBERG LEV SU;
申请日1973-05-25
分类号G01B7/06;
国家 SU
入库时间 2022-08-23 00:18:20
机译: 涡流测厚仪在导电基底中测量电介质涂层
机译: 涡流电流表,用于测量电介质涂层的厚度
机译: 在非磁性基体上检测电介质涂层厚度的涡流法