首页> 外国专利> INTERFEROMETER FOR INSPECTING QUALITY OF PICTORIAL IMAGE BY DIFRACTION SPOT AND FOR MEASURING WAVE ABERRATION OF OPTICAL SYSTEMS

INTERFEROMETER FOR INSPECTING QUALITY OF PICTORIAL IMAGE BY DIFRACTION SPOT AND FOR MEASURING WAVE ABERRATION OF OPTICAL SYSTEMS

机译：用衍射光斑检测光学图像质量和测量光学系统波像差的干涉仪

页面导航

著录项
相似文献

摘要

机译：

著录项

公开/公告号SU569845A1

专利类型
公开/公告日1977-08-25

原文格式PDF
申请/专利权人 KOROLEV NIKOLAJ VSU;
展开▼

申请/专利号SU19752187630
发明设计人 KOROLEV NIKOLAJ VSU;MENSHIKOVA EVGENIYA MSU;
展开▼

申请日1975-10-24
分类号G01B9/02;
国家 SU
入库时间 2022-08-23 00:18:01

相似文献

专利
外文文献
中文文献

获取专利

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

客服微信
服务号