首页> 外国专利> AN INSPECTION APPARATUS TO INSPECT INSIDE SURFACE OF A TEST PIESE

AN INSPECTION APPARATUS TO INSPECT INSIDE SURFACE OF A TEST PIESE

机译:一种用于检查试验饼内表面的检查装置

摘要

PURPOSE:An apparatus which detects microscopic flows, scratches and uneveness of the surface being checked with high reliability and preciseness by transmitting laser beam to the spot on the surface being tested.
机译:目的:通过将激光束传输到被测表面上的斑点,以高可靠性和精确度检测被检表面的微观流动,划痕和不平整度的设备。

著录项

  • 公开/公告号JPS5310475B2

    专利类型

  • 公开/公告日1978-04-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号JP19750051131

  • 发明设计人

    申请日1975-04-25

  • 分类号G02B23/24;G01M3/38;G01N21/88;G01N21/93;G01N21/954;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-22 23:22:58

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