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Taidenbiimunoshusashuseisochi

机译:Tai den比IM uno是USA曙色ISO吃

摘要

The location of a beam of charged particles within a deflection field is determined by its orthogonal deflection voltages. With the location of the beam in the field, correction currents are supplied to a focus coil and to each of a pair of stigmator coils to correct for change of focal length and astigmatism due to the beam being deflected away from the center of its deflection field.
机译:带电粒子束在偏转场内的位置由其正交偏转电压确定。随着光束在场中的位置,校正电流被提供给聚焦线圈和一对柱头线圈中的每一个,以校正由于光束偏离其偏转场的中心而引起的焦距和像散的变化。 。

著录项

  • 公开/公告号JPS5333473B2

    专利类型

  • 公开/公告日1978-09-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号JP19750066655

  • 发明设计人

    申请日1975-06-04

  • 分类号H01J37/147;H01J37/153;H01J37/21;H01L21/027;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-22 23:07:17

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