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机译:检测半导体器件长期不稳定性的程序
公开/公告号DD135985A3
专利类型
公开/公告日1979-06-13
原文格式PDF
申请/专利权人 HERKNER GEORG;MISCHER GUENTER;OHMANN JUERGEN;POLCHOW LUTZ;
申请/专利号DD19770197352
发明设计人 OHMANN JUERGEN;HERKNER GEORG;MISCHER GUENTER;POLCHOW LUTZ;
申请日1977-02-14
分类号G01R31/26;
国家 DD
入库时间 2022-08-22 20:48:32
机译: 用于确定长期演进系统和装置的上行链路和下行链路中的无线电链路故障的程序
机译: 半导体器件制造工艺控制装置基于与处理条件相对应的存储的回收程序来执行检测到的测试晶片和伪晶片的回收处理。
机译: 电气程序,用于检测半导体器件中触点开口处的位置误差