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Observation apparatus in the application polarized of the images of a mask and of a plate for the manufacture of semi-finished - conductors

机译:用于半成品导体的掩模和板的图像在应用中的观察设备

摘要

P the invention relates to a device for observation in application polarized. / p & & p & it relates to a device for observation of the fact that a mask m of the formation of a component a semi - conductor and a wafer w are aligned in position determined. The apparatus eliminated the application reflected by the mask by the use of a mirror phase shift and an optical analyser, allowing the observation of the cover and the plate without any difference of luminosities. / p & & p & application for the manufacture of the circuits a semi -. & / p
机译:本发明涉及一种用于极化应用中的观察装置。 & &本发明涉及一种用于观察以下事实的装置,即,将构成部件,半导体和晶片w的掩模m对准所确定的位置。该设备通过使用镜相移和光学分析仪消除了由掩模反射的应用,从而可以观察覆盖层和平板,而没有任何亮度差异。 & &半电路制造的应用程序。 & / p>

著录项

  • 公开/公告号FR2408847A1

    专利类型

  • 公开/公告日1979-06-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 CANON KK;CANON KK;

    申请/专利号FR19780031611

  • 发明设计人

    申请日1978-11-08

  • 分类号G02B27/00;G03F9/00;H01L21/31;

  • 国家 FR

  • 入库时间 2022-08-22 19:32:19

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