退出
我的积分:
中文文献批量获取
外文文献批量获取
机译:用于测量平面形状偏离光学表面的干涉仪
公开/公告号SU700778A1
专利类型
公开/公告日1979-11-30
原文格式PDF
申请/专利权人 SP KT BYURO S O PROIZV IFIZ AN BRUSS SSR;
申请/专利号SU19782637058
发明设计人 ANDREEV SERGEJ PSU;KRAVCHENKO ALEKSANDR ESU;SMIRNOVA OLGA MSU;
申请日1978-06-28
分类号G01B9/02;G01B11/30;
国家 SU
入库时间 2022-08-22 17:54:40
机译: 扫描干涉仪,用于测量光学表面形状
机译: 干涉仪光学器件的光学元件的处理方法,涉及基于干涉测量和干涉仪光学器件的特性确定光学元件的光学表面与目标形状的偏差。
机译: 确定理想形状偏差的光学测量方法,以及经过抛光的精密测量机