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机译:用于测量半导体材料中电流载体漂移速度的装置
公开/公告号SU773538A1
专利类型
公开/公告日1980-10-23
原文格式PDF
申请/专利权人 INSTFIZ POLUPROVODNIKOV AN LITOVSKOJ SSR;
申请/专利号SU19782679882
发明设计人 KROTKUS ARUNAS SU;DOBROVOLSKIS ZIGMAS PSU;
申请日1978-10-31
分类号H01L21/66;
国家 SU
入库时间 2022-08-22 17:45:42
机译: 测量载流子速度的装置
机译: 测定半导体中载流子漂移速度的方法
机译: 用于测量电荷载体浓度以及在半导体材料,层结构和装置中深度的电荷载体浓度分布的方法和装置