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机译:相同尺寸样品的测量和记录所选直径的实验室仪器
公开/公告号PL114395B2
专利类型
公开/公告日1981-01-31
原文格式PDF
申请/专利权人
申请/专利号PL19790213205
发明设计人
申请日1979-02-05
分类号G01N3/06;
国家 PL
入库时间 2022-08-22 16:06:25
机译: 相同尺寸样品的测量和记录所选直径的实验室仪器
机译: 用于相同厚度的光束斑直径管理的薄膜厚度测量仪器和样品的光束斑直径管理方法
机译: 样品直径变化测量的方法,特别是材料圆柱样品的测量方法