首页> 中文会议>微波通讯技术学术讨论会 >利用谐振腔两种不同方式的微扰测量介质样品的介电常数和截面尺寸

利用谐振腔两种不同方式的微扰测量介质样品的介电常数和截面尺寸

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号