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METHOD FOR MANUFACTURING COMPLEMENTARY BIPOLAR TRANSISTORS AND MOS DEVICES WITH COMPLEMENTARY SYMMETRY WITH POLYCRYSTALLINE CONTROL ELECTRODES

机译:用多晶硅控制电极互补对称制造互补双极晶体管和MOS器件的方法

摘要

P ONE INTRODUCES: IMPURITIES P IN REGIONS OF SUBSTRATE N TO FORM A REGION 28 OF PNP COLLECTOR AND A REGION 32 OF BODY OF MOS DEVICE WITH CHANNEL N; IMPURITIES N IN REGION 28 TO FORM A REGION 36 BASE N AND IN REGION 32 TO FORM REGIONS 42, 44 OF SOURCE AND DRAIN N; IMPURITIES P IN REGIONS OF SUBSTRATE N TO FORM A BASE REGION 48 OF NPN DEVICE AND REGIONS 50, 52 OF SOURCE AND DRAIN OF A P-CHANNEL MOS DEVICE; IMPURITIES P IN REGIONS 36 AND IN P REGIONS TO FORM ISSUER REGIONS 56 AND CONTACT REGIONS; IMPURITIES N IN REGIONS 48 AND IN REGIONS N. /P
机译:

一个介绍:N衬底区域中的杂质P形成了PNP收集器的28区和MOS器件的N沟道的32体;在区域28中形成N的基础上的杂质N,在区域32中形成源和漏的N的杂质42中的杂质N; N衬底N区域中的杂质P形成NPN器件的基本区域48和P通道MOS器件的源极和漏极区域50、52;在区域36和区域P中构成发行者区域56和联系区域的杂质P;区域48和区域N中的杂质N。

著录项

  • 公开/公告号FR2476911A1

    专利类型

  • 公开/公告日1981-08-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HARRIS CORP;HARRIS CORP;

    申请/专利号FR19810003594

  • 发明设计人 PIOTROWSKI LEO R;

    申请日1981-02-24

  • 分类号H01L21/72;

  • 国家 FR

  • 入库时间 2022-08-22 15:01:36

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