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机译:测量载流子寿命的方法,特别是在销钉二极管P-I-N DIODAKH中
公开/公告号PL119349B1
专利类型
公开/公告日1981-12-31
原文格式PDF
申请/专利权人
申请/专利号PL19790218622
发明设计人
申请日1979-09-29
分类号G01R31/26;
国家 PL
入库时间 2022-08-22 13:39:16
机译: 测量载流子寿命的方法,尤其是在Pin Diodes P-I-N Diodakh中
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