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METHOD OF MEASUREMENT OF LIFE-TIME OF CURRENT CARRIERS,ESPECIALLY IN PIN DIODESV P-I-N DIODAKH

机译:测量载流子寿命的方法,特别是在销钉二极管P-I-N DIODAKH中

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号PL119349B1

    专利类型

  • 公开/公告日1981-12-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号PL19790218622

  • 发明设计人

    申请日1979-09-29

  • 分类号G01R31/26;

  • 国家 PL

  • 入库时间 2022-08-22 13:39:16

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