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laboratives testgeraet to prove of semiconductor devices

机译:检验半导体器件的实验室测试人员

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号DD159371A2

    专利类型

  • 公开/公告日1983-03-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 STAUDTE BERND;

    申请/专利号DD19810226902

  • 发明设计人 STAUDTE BERND;

    申请日1981-01-09

  • 分类号G01R31/26;

  • 国家 DD

  • 入库时间 2022-08-22 11:14:57

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