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机译:检验半导体器件的实验室测试人员
公开/公告号DD159371A2
专利类型
公开/公告日1983-03-02
原文格式PDF
申请/专利权人 STAUDTE BERND;
申请/专利号DD19810226902
发明设计人 STAUDTE BERND;
申请日1981-01-09
分类号G01R31/26;
国家 DD
入库时间 2022-08-22 11:14:57
机译: 检验半导体器件的实验室测试人员
机译: 检测半导体器件中的针对准校正电路和方法