首页> 外国专利> Method of structuring with metal oxide masks by reactive ion-beam etching

Method of structuring with metal oxide masks by reactive ion-beam etching

机译:通过反应离子束刻蚀用金属氧化物掩膜进行结构化的方法

摘要

Very fine circuit structures in microelectronics are produced by first applying a thin metal oxide layer uniformly over an entire surface of a layer to be etched, then applying a resist layer uniformly over the entire metal oxide layer and structuring such oxide layer by ion- beam etching and, utilizing the structured oxide layer as a mask, performing a dry-etching with an ion beam of the metal layer lying thereunder so as to attain structures having very unfavorable resist height to etching depth ratios.
机译:微电子中非常精细的电路结构是通过首先在要蚀刻的层的整个表面上均匀地施加薄的金属氧化物层,然后在整个金属氧化物层上均匀地施加抗蚀剂层并通过离子束蚀刻来构造这种氧化物层来生产的利用结构化的氧化物层作为掩模,用位于其下方的金属层的离子束进行干法蚀刻,以得到抗蚀剂高度与蚀刻深度之比非常不利的结构。

著录项

  • 公开/公告号US4390394A

    专利类型

  • 公开/公告日1983-06-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT;

    申请/专利号US19820338605

  • 发明设计人 KARIN UNGER;JOSEF MATHUNI;

    申请日1982-01-11

  • 分类号C23F1/02;B44C1/22;C03C15/00;C03C25/06;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 09:50:03

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号