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maetningsfoerfarande foer impedanser, saerskilt smao kapacitanser, vid vilket man anvaender i eller flera referenser.

机译:使用一个或多个参考的阻抗测量程序,尤其是小电容。

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号FI844219A0

    专利类型

  • 公开/公告日1984-10-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 VAISALA OY;

    申请/专利号FI19840004219

  • 发明设计人 LYYRA MATTI;

    申请日1984-10-26

  • 分类号G01R;

  • 国家 FI

  • 入库时间 2022-08-22 09:18:27

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