MAETNINGSFOERFARANDE Foer IMPEDANSER SAERSKILT SMAO KAPACITANSER VID Vilket MAN ANVAENDER one or several Referenser

• 1. 电容结构和在使用电容结构的情况下确定电荷量的方法 [P] . 中国专利： CN107923934B . 2021.01.01
• 2. 电容结构和在使用电容结构的情况下确定电荷量的方法 [P] . 中国专利： CN107923934A . 2018-04-17
• 3. MAETNINGSFOERFARANDE Foer IMPEDANSER SAERSKILT SMAO KAPACITANSER VID Vilket MAN ANVAENDER one or several Referenser [P] . FI70485C . 1986-09-19

  机译： 一种或几种用途的阻抗特别是小容量的测量程序

• 4. maetningsfoerfarande foer impedanser saerskilt smao kapacitanser vid vilket man anvaender i eller flera referenser [P] . FI70485C . 1986-09-12

  机译： 一种或多种参考中使用的阻抗（特别是小电容）的测量方法

• 5. maetningsfoerfarande foer impedanser, saerskilt smao kapacitanser, vid vilket man anvaender i eller flera referenser. [P] . FI844219A0 . 1984-10-26

  机译： 使用一个或多个参考的阻抗测量程序，尤其是小电容。

• 1. 几种薄膜电容器的频率阻抗特性 [C] . 王培贤 . 阻容元件专业委员会及专业情报网第七、八届学术年会 . 1990
• 2. 一种使用PN码对SAR ADC的电容失配进行后台校准技术的研究 [A] . 符土建 . 2020