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METHOD OF X-RAY DIFFRACTOMETRIC ANALYSIS OF POLYCRYSTAL OBJECTS HAVING AXIAL TEXTURE

机译：具有轴纹理的多目标的X射线衍射分析方法

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method of x-ray дифрактометрического en aliza drilling objects with аксиальной textureincluding the installation of a flat specimen holder гениометра texture перпендикул рно гониометрической axis to a

机译：X射线衍射法在具有轴向纹理的物体上钻孔的方法，包括将垂直于测角轴的geniometer纹理的平样品架安装到

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公开/公告号SU1062579A1

专利类型
公开/公告日1983-12-23

原文格式PDF
申请/专利权人 KZ G UNIV IM.V.I.ULYANOVA-LENINA;LE N-PROIZV OB BUREVESTNIK;
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申请/专利号SU19823488016
发明设计人 KRINARI GEORGIJ ASU;KHALITOV ZUFAR YASU;GRIGOREV YURIJ SSU;EVGRAFOV ALEKSANDR ASU;
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申请日1982-09-07
分类号G01N23/207;
国家 SU
入库时间 2022-08-22 08:55:02

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