机译:根据X射线射线发射的样品和放射物引起的样品破裂,伴随着纸,纸板和均匀材料厚度方向的填充材料和/或涂层材料的程序执行分布和这些材料含量的测量。所说的方法和所说的方法的应用
公开/公告号JPS60170753A
专利类型
公开/公告日1985-09-04
原文格式PDF
申请/专利号JP19840014560
发明设计人 YUHANI KUUSHI;
申请日1984-01-31
分类号G01N23/06;G01N23/223;
国家 JP
入库时间 2022-08-22 08:27:55