首页> 外国专利> METHOD FOR INTEGRATIVE AND DIFFERENTIAL ANALYSIS IN INTERFEROMETRIC HOLOGRAPHY USINE MOIRE TECHNICS

METHOD FOR INTEGRATIVE AND DIFFERENTIAL ANALYSIS IN INTERFEROMETRIC HOLOGRAPHY USINE MOIRE TECHNICS

机译:干涉全息术中的云纹技术的积分和微分分析方法

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号PT80333A

    专利类型

  • 公开/公告日1985-05-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利号PT19850080333

  • 发明设计人

    申请日1985-04-23

  • 分类号G03H1/04;

  • 国家 PT

  • 入库时间 2022-08-22 08:12:59

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号