首页> 外国专利> ARRANGEMENT FOR SAMPLE TESTING AT MULTIPLE EXCITATION OF DAMPED OSCILLATIONS

ARRANGEMENT FOR SAMPLE TESTING AT MULTIPLE EXCITATION OF DAMPED OSCILLATIONS

机译:阻尼振动多次激励下的样品测试安排

摘要

1.device for testing samples in the subsequent initiation of затухающих containing base, a press формирователь load соедин енньй with movable grip.and the low-voltage frame with stationary grip, отлич
机译:1.一种用于在随后启动затухающих含底座的设备中测试样品的设备,带有可动手柄的压力机формирователь压力机формирователь

著录项

  • 公开/公告号SU1176195A1

    专利类型

  • 公开/公告日1985-08-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 VNII GORNOJ GEOMEKHANIKI MARK;

    申请/专利号SU19843709824

  • 发明设计人 LODUS EVGENIJ VSU;

    申请日1984-03-12

  • 分类号G01M7/00;

  • 国家 SU

  • 入库时间 2022-08-22 07:59:22

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号