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MICROWAVE EXCITED HELIUM PLASMA BEAM ION DETECTOR

机译:微波激发氦等离子体离子检测器

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号JPS61122561A

    专利类型

  • 公开/公告日1986-06-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 VARIAN ASSOC INC;

    申请/专利号JP19850247306

  • 发明设计人 GUREGORII JIEI UERUZU;

    申请日1985-11-06

  • 分类号G01N27/64;G01N27/66;G01N30/64;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-22 07:50:24

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