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机译:高性能半导体组件系统质量评估方法
公开/公告号CS242157B1
专利类型
公开/公告日1986-04-17
原文格式PDF
申请/专利权人 VANEKOLDRICHCS;KEMPNYMILANCS;HARMANRUDOLFCS;SIMKOTIMOTEJCS;PODEBRADSKYJAROSLAVCS;
申请/专利号CS19840004760
发明设计人 SIMKOTIMOTEJCS;PODEBRADSKYJAROSLAVCS;HARMANRUDOLFCS;KEMPNYMILANCS;VANEKOLDRICHCS;
申请日1984-06-22
分类号H01L21/66;
国家 CS
入库时间 2022-08-22 07:42:44
机译: 半导体集成电路的测试质量评估和改进系统以及半导体集成电路的测试质量评估和改进方法
机译: 半导体集成电路的测试质量评估与改进系统及半导体集成电路的测试质量评估与改进方法
机译: 半导体元件测试装置的测量一致性评估方法,例如用于集成电路质量控制测试