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METHOD OF MEASURING RESIDUAL STRESSES AND MICROHARDNESS IN SUPERFICIAL LAYER OF MAGNETIC MATERIALS

机译:磁性材料表面层中残余应力和显微硬度的测量方法

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号PL256035A1

    专利类型

  • 公开/公告日1987-05-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 POLITECHNIKA WARSZAWSKA;

    申请/专利号PL19850256035

  • 发明设计人 STRAWINSKI LESZEK;

    申请日1985-10-31

  • 分类号G01N;G01L;

  • 国家 PL

  • 入库时间 2022-08-22 07:19:28

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