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机译:磁性材料表面层中残余应力和显微硬度的测量方法
公开/公告号PL256035A1
专利类型
公开/公告日1987-05-04
原文格式PDF
申请/专利权人 POLITECHNIKA WARSZAWSKA;
申请/专利号PL19850256035
发明设计人 STRAWINSKI LESZEK;
申请日1985-10-31
分类号G01N;G01L;
国家 PL
入库时间 2022-08-22 07:19:28
机译: 磁性材料表面层中残余应力和显微硬度的测量方法
机译: 用于测量工业表面层中残余应力的方法和用于测量工业表面层中残余应力的仪器