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Method for measuring residual stresses in the technological surface layers and instrument for measuring residual stresses in the technological surface layers

机译:用于测量工业表面层中残余应力的方法和用于测量工业表面层中残余应力的仪器

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号PL394251A1

    专利类型

  • 公开/公告日2012-09-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 POLITECHNIKA WARSZAWSKA;

    申请/专利号PL20110394251

  • 发明设计人 ARASIMOWICZ ANNA;NOWICKI BOGDAN;

    申请日2011-03-17

  • 分类号G01L1/00;G01N19/00;

  • 国家 PL

  • 入库时间 2022-08-21 17:23:08

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