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Method of measurement of internal stresses in the technological surface layer and the instrument for measuring of internal stresses

机译:工艺表面层内应力的测量方法和内应力测量仪

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号PL385937A1

    专利类型

  • 公开/公告日2010-03-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 POLITECHNIKA WARSZAWSKA;

    申请/专利号PL20080385937

  • 申请日2008-08-22

  • 分类号G01N33/20;G01B5/06;G01N19/00;G01N19/06;

  • 国家 PL

  • 入库时间 2022-08-21 18:45:12

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