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机译:工艺表面层内应力的测量方法和内应力测量仪
公开/公告号PL385937A1
专利类型
公开/公告日2010-03-01
原文格式PDF
申请/专利权人 POLITECHNIKA WARSZAWSKA;
申请/专利号PL20080385937
发明设计人 PODOLAK ANNA;ARASIMOWICZ ANNA;NOWICKI BOGDAN;
申请日2008-08-22
分类号G01N33/20;G01B5/06;G01N19/00;G01N19/06;
国家 PL
入库时间 2022-08-21 18:45:12
机译: 工艺表面层内应力的测量方法和内应力测量仪
机译: 用于测量工业表面层中残余应力的方法和用于测量工业表面层中残余应力的仪器