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METHOD OF CALIBRATION CHECKING OF METER OF REFLECTION FACTOR

机译：反射系数计的校验方法

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机译：本发明涉及一对无线电电路的技术测量。微波，本发明-提高校准精度../1l校准系数测量仪的反射（至）

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公开/公告号SU1277016A1

专利类型
公开/公告日1986-12-15

原文格式PDF
申请/专利权人 SIBIRSKIJ GNII METROLOGII;
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申请/专利号SU19843696187
发明设计人 KAMENETSKIJ MOISEJ ISU;SHEJNIN ERIKH MSU;EVGRAFOV VLADIMIR ISU;BERKHOER ALEKSANDR LSU;
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申请日1984-01-25
分类号G01R27/06;
国家 SU
入库时间 2022-08-22 07:14:10

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