首先,半导体衬底1,例如砷化镓,被旨在形成n沟道区域的层2覆盖,并且该区域的一部分被钝化层3a覆盖。在半导体器件表面的自由区中,注入干扰点,这些干扰点形成强掺杂在沟道区下方的源极和漏极区5、11。然后在与源极区5相邻的区域中从钝化层3a去除表面层,并且将栅格10放置在由此从沟道区释放的窄区Lg2上。
(CF在BOPI中绘制)
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公开/公告号FR2593641A1
专利类型
公开/公告日1987-07-31
原文格式PDF
申请/专利号FR19870001014
申请日1987-01-28
分类号H01L29/80;H01L21/18;
国家 FR
入库时间 2022-08-22 07:11:11