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Apparatus for measuring trace impurity components of the purified gas using a gas chromatograph

机译:用气相色谱仪测量净化气体中微量杂质成分的设备

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号JPS63120157U

    专利类型

  • 公开/公告日1988-08-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号JP19870011926U

  • 发明设计人

    申请日1987-01-29

  • 分类号G01N30/08;B01D15/08;G01N30/38;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-22 07:07:37

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