通过X光子电子光谱法对固体材料表面进行局部化学分析的装置,其中分析器样品2连接到3个处理器,而分析器样品2则与之相邻,而分析器样品2则在其中1个位于样品和电子5的源附近,传输电子束10的特征在于,它包含电子束10和样品2,电子束10和样品2是固体固体材料,光子X 6的微波尽可能近2. P>
公开/公告号FR2600422A1
专利类型
公开/公告日1987-12-24
原文格式PDF
申请/专利权人 INSTRUMENTS SA;INSTRUMENTS SA;
申请/专利号FR19860007740
申请日1986-05-29
分类号G01N23/227;
国家 FR
入库时间 2022-08-22 06:51:10