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Apparatus and method of chemical analyses local reactions at the surface of solid materials by spectroscopy of photo - electrons x

机译:通过光电子光谱法化学分析固体材料表面局部反应的装置和方法

摘要

The apparatus of the local chemical analyses on the surface of solid materials by spectroscopy of photo - electrons x comprising an analysis chamber 1 in an ultrahigh vacuum, which is housed the sample to be analyzed 2 which is connected to a manipulator 3 is provided at the packaging of the chamber 1, an analyzer 4 located at close to the sample and a source of electrons 5 emitting an electron beam 10 is characterizes in that it comprises, between the electron beam 10 and the sample 2 which is a solid, a microsource of x photons 6, the more pressure willing possible to the sample block 2.
机译:通过在超高真空中的分析室1,通过光电子能谱x对固体材料的表面进行局部化学分析的装置,该分析室1容纳有待分析的样品2,该分析室2被连接至操纵器3。在腔室1的包装中,位于样品附近的分析仪4和发射电子束10的电子源5的特征在于,它在电子束10与作为固体的样品2之间包括微电子源。 x光子6,对样品块2施加的压力越大。

著录项

  • 公开/公告号FR2600422B1

    专利类型

  • 公开/公告日1989-10-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 INSTRUMENTS SA;

    申请/专利号FR19860007740

  • 发明设计人 PIERRE MORIN;

    申请日1986-05-29

  • 分类号G01N23/227;

  • 国家 FR

  • 入库时间 2022-08-22 06:30:14

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