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机译:基坑垂直度的光度法测点法
公开/公告号CS8702667A1
专利类型
公开/公告日1989-07-12
原文格式PDF
申请/专利权人 JEDLICKA JIRI ING.CS;
申请/专利号CS19870002667
发明设计人 JEDLICKA JIRI ING.CS;
申请日1987-04-15
分类号G01C11/00;
国家 CS
入库时间 2022-08-22 06:40:12
机译: 基坑垂直度的光度法测点法
机译: 摄影测量图像处理设备的摄影测量方法,使用该摄影测量图像处理设备的存储介质以及存储该摄影测量图像处理程序的存储介质