首页> 外国专利> METHOD OF MEASURING SURFACE DENSITY OF ELECTRET CHARGE

METHOD OF MEASURING SURFACE DENSITY OF ELECTRET CHARGE

机译:测量电荷的表面密度的方法

摘要

the invention u043eu0442u043du043eu0441u0438u0442u0441u00a0 to measurement technique and can be used u0434u043bu00a0 u0438u0437u043cu0435u0440u0435u043du0438u00a0 u0440u0430u0441u043fu0440u0435u0434u0435u043bu0435u043du0438u00a0 u0437u0430u0440u00a0u0434u0430 surface density on the surface of the u044du043bu0435u043au0442u0440u0435u0442u0430. the purpose of u0438u0437u043eu0431u0440u0435u0442u0435u043du0438u00a0 - improved accuracy u0438u0437u043cu0435u0440u0435u043du0438u00a0 - u0434u043eu0441u0442u0438u0433u0430u0435u0442u0441u00a0 by u0438u0441u043au043bu044eu0447u0435u043du0438u00a0 of u0438u0437u043cu0435u0440u0435u043du0438u00a0 secondary u0440u0430u0441u0441u0442u043eu00a0u043du0438u00a0 between electrodes and u044du043bu0435u043au0442u0440u0435u0442u043eu043c and amplitude fluctuations in the electrodes.the u0434u043eu0441u0442u0438u0433u0430u0435u0442u0441u00a0 u043fu043eu0441u0442u0430u0432u043bu0435u043du043du0430u00a0, measuring electrode placed parallel to the electrode surface. u043fu0440u0438u0432u043eu0434u00a0u0442 measuring electrode in the harmonic u043au043eu043bu0435u0431u0430u043du0438u00a0 and the maximum value of generated voltage in the measuring circuit u0441u0443u0434u00a0u0442 on surface density of u0430u0440u00a0u0434u0430 u044du043bu0435u043au0442u0440u0435u0442u0430. 1 il.
机译:本发明 u043e u0442 u043d u043e u0441 u0438 u0442 u0441 u00a0可以用于测量技术,并且可以用于u00a0 u0440 u0430 u0441 u043f u0440 u0435 u0434 u0435 u043b u0435 u043d u0438 u00a0 u0437 u0430 u0440 u00a0 u0434 u0430 u0430 u0435 u043a u0442 u0440 u0435 u0442 u0430。 u0438 u0437 u043e u0431 u0440 u0435 u0442 u0435 u043d u0438 u00a0的目的-提高了精度 u0438 u0437 u043c u0435 u0440 u0435 u043d u043d u0438 u00a0- u0434 u043e u0441 u0442 u0438 u0433 u0430 u0435 u0442 u0441 u00a0通过 u0438 u0441 u043a u043b u044e u0447 u0435 u043d u0438 u00a0的 u0438 u0437 u043c u043c u0440 u0435 u043d u0438 u00a0辅助 u0440 u0430 u0441 u0441 u0442 u043e u00a0 u043d u0438 u00a0和电极之间的 u044d u043b u0435 u043a u0442 u0440 u0435 u0435 u043e u043c和电极中的幅度波动。 u0434 u043e u0441 u0442 u0438 u0433 u0430 u0435 u0442 u0441 u00a0 u043f u043e u0441 u0442 u0442 u0430 u0432 u043b u0435 将测量电极平行于电极表面放置。 u043f u0440 u0438 u0432 u043e u0434 u00a0 u0442谐波中的测量电极 u043a u043e u043b u0435 u0431 u0430 u043d u0438 u00a0和测量电路中产生的电压最大值 u0441 u0443 u0434 u00a0 u0442在 u0430 u0440 u00a0 u0434 u0430 u044d u043d u043b u0435 u043a u0442 u0440 u0435 u0435 u0442 u0430的表面密度上。 1升

著录项

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号