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机译:无接触方法确定半导体中平衡电荷载体的有效寿命
公开/公告号SU1384117A1
专利类型
公开/公告日1990-08-23
原文格式PDF
申请/专利权人 INST POLUPROVODNIKOV;
申请/专利号SU19853874095
发明设计人 TESLENKO G.I.SU;MALYUTENKO V.K.SU;
申请日1985-01-23
分类号H01L21/66;
国家 SU
入库时间 2022-08-22 06:12:12
机译: 本地电荷载流子寿命确定方法,例如光伏技术中经过部分处理的太阳能电池,涉及确定半导体结构局部表面的局部载流子寿命值
机译: 通过动态和自由测量自由电荷载体松弛时间来确定半导体基质的实际电荷载体寿命的方法
机译: 通过动态和微分测量自由电荷载流子的弛豫时间来确定半导体衬底实际载流子寿命的方法