首页> 外国专利> METHOD OF TESTING APPARATUS FOR AFFECTING ON ORGANISM

METHOD OF TESTING APPARATUS FOR AFFECTING ON ORGANISM

机译:一种影响有机体的仪器测试方法

摘要

the invention u043eu0442u043du043eu0441u0438u0442u0441u00a0 to medicine and can be used u0434u043bu00a0 u043au043eu043du0442u0440u043eu043bu00a0 technological parameters of devices u0434u043bu00a0 diagnostic and therapeutic purposes. the reduction in the time to u0438u0437u043eu0431u0440u0435u0442u0435u043du0438u00a0 u00a0u0432u043bu00a0u0435u0442u0441u00a0 u0438u0441u0441u043bu0435u0434u043eu0432u0430u043du0438u00a0. the objective is, through the u0432u043eu0437u0434u0435u0439u0441u0442u0432u0438u00a0 at acupuncture points.the first u043eu043fu0440u0435u0434u0435u043bu00a0u044eu0442 two acupuncture points located in different zones of the body, u0437u0430u043cu0435u0440u00a0u044eu0442 in u044du043bu0435u043au0442u0440u043eu043au043eu0436u043du043eu0435 resistance, after which affect the t glasses test signal test device for 120, 122, and then again u0438u0437u043cu0435u0440u00a0u044eu0442 u044du043bu0435u043au0442u0440u043eu043au043eu0436u043du043eu0435 resistance. largest deviations u0441u0440u0435u0434u043du0435u0430u0440u0438u0444u043cu0435u0442u0438u0447u0435u0441u043au0438u0445 values u044du043bu0435u043au0442u0440u043eu043au043eu0436u043du043eu0433u043e u0441u043eu043fu0440u043eu0442u0438u0432u043bu0435u043du0438u00a0 u0441u0443u0434u00a0u0442 nature of the measurements.method of reducing the u0432u0440u0435u043cu00a0 u0438u0441u0441u043bu0435u0434u043eu0432u0430u043du0438u00a0 10 times. table 6 u0444u0438u0433., 5.
机译:本发明在医学上可以被使用,并且可以被用于技术参数上。设备的诊断和治疗目的。减少的时间为 u0438 u0437 u043e u0431 u0440 u0435 u0442 u0435 u043d u043d u0438 u00a0 u00a0 u0432 u043b u00a0 u0435 u0442 u0442 u0441 u00a0 u0438 u0441 u043b u0435 u0434 u043e u0432 u0430 u043d u0438 u00a0。目的是通过 u0432 u043e u0437 u0434 u0435 u0439 u0441 u0442 u0432 u0438 u00a0在第一个 u043e u043f u0440 u04340 u0435 u0434 u0434 u0435 u043b u00a0 u044e u0442位于人体不同区域的两个穴位 u044d u043b u0435 u043a u0442 u0440 u043e u043a u043e中的 u0437 u0430 u043c u0435 u0440 u00a0 u044e u0442 u0436 u043d u043e u0435电阻,之后影响t眼镜测试信号测试设备的120、122,然后再次 u0438 u0437 u043c u0435 u0440 u00a0 u044e u0442 u044d u043b u0435 u043a u0442 u0440 u043e u043a u043e u0436 u043d u043e u0435电阻。最大偏差 u0441 u0440 u0435 u0434 u043d u0435 u0430 u0440 u0438 u0444 u043c u0435 u0442 u0438 u0447 u0435 u0441 u0431 u043a u0438 u0445值 u044d u043b u043b u0435 u043a u0442 u0440 u043e u043a u043e u0436 u043d u043e u043e u0433 u043e u0441 u043e u043e u043f u0440 u043e u0442 u0438 u0432 u0432 u043b u0435 u043d u0438 u00a0 u0443 u0434 u00a0 u0442测量性质。减少 u0432 u0440 u0435 u043c u00a0 u0438 u0441 u0441 u0441 u043b u0435 u0434 u043e u043e u0432 u0430 u043d u0438 u00a0的方法10倍。表6 u0444 u0438 u0433。,5。

著录项

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号