首页> 外国专利> Interferometric ranging device using coherent electromagnetic beams - uses two different frequencies for providing phase difference measurement

Interferometric ranging device using coherent electromagnetic beams - uses two different frequencies for providing phase difference measurement

机译:使用相干电磁束的干涉测距设备-使用两个不同的频率来提供相差测量

摘要

The ranging device uses two coherent electromagnetic beams to determine the spacing between two optical reflectors.a The beams exhibit two different frequencies, with measurement of the phase difference between these frequencies using a common zero print. The two frequencies can be switched around using a half lambda plate with a second phase difference measurement obtained. The two frequencies are optically separated via an optical system. Each beam is fed along the measuring path or a reference path a given number of times. USE - For accurate length measurement in sub-manometer range.
机译:测距设备使用两个相干的电磁束来确定两个光学反射器之间的间距。a束具有两个不同的频率,并使用共同的零打印来测量这些频率之间的相位差。可以使用半λ板切换两个频率,并获得第二个相位差测量值。这两个频率通过光学系统光学分离。每个光束沿测量路径或参考路径馈送给定次数。用途-用于在亚压力表范围内进行精确的长度测量。

著录项

  • 公开/公告号CH674674A5

    专利类型

  • 公开/公告日1990-06-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ALTHIS AG HORW ZUSTELLADRESSE:;

    申请/专利号CH19870004146

  • 发明设计人 SCHAER HILDA;

    申请日1987-09-28

  • 分类号G01B9/02;

  • 国家 CH

  • 入库时间 2022-08-22 06:11:19

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号